Cyril PASCAL
Product and Test Engineering Manager
Aix-en-Provence
Profil professionnel
NVM Test Engineering Manager avec 26 ans d'expérience chez STMicroelectronics, spécialisé dans le management d'équipes techniques pluridisciplinaires et l'optimisation des processus de test et de production. Expérience confirmée dans la définition de stratégies de test NVM (EEPROM / Flash) pour MCU STM8/STM32, la gestion de projets multi-sites, et l'intégration des exigences de sécurité pour les marchés General Purpose et Automotive. Motivé par les enjeux d'innovation, de performance industrielle et de définition stratégique.
Vue d'ensemble
24
24
years of professional experience
1
1
year of post-secondary education
Expérience
NVM Test Engineering Manager
STMicroelectronics
Rousset
2023.11 - Actuel
- Gestion d'une équipe, incluant le recrutement, la formation, l'encadrement du personnel, ainsi que l'organisation des tâches et du planning.
- Coordination de l'activité de l'équipe avec ses interfaces, gestion du planning et définition des priorités.
- Management d'une équipe de 17 personnes sur deux sites (Catania & Rousset).
- Pilotage du développement et qualification des mémoires avancées et émergentes dans les MCU STM32 (ESTM, PCM & RRAM).
- Définition et challenge des solutions de tests pour l'atteinte des objectifs de la la corporation (coût, rendement, qualité et flexibilité).
- Mise en place de nouvelles stratégies de test NVM ayant permis une réduction du coût de test de l'ordre 20% sur les familles C5/H5/V8
- Organisation leader pour l'intégration de la sécurité dans les MCU Général Purpose et Automotive dans le cadre du test industriel (compatibilité entre couverture de test et protection contre l'intrusion).
Test Engineering Manager
STMicroelectronics
Sophia Antipolis
2019.01 - 2023.10
- Gestion d'une équipe, la formation, l'encadrement du personnel, ainsi que l'organisation des tâches et du planning.
- Coordination de l'activité de l'équipe avec ses interfaces, gestion du planning et définition des priorités sur le développement complet d'un MCU STM32 G4 Family
- Développement du driver de la famille STM32 C0, incluant une approche de test spécifique permettant une forte optimisation des coûts (suppression de flows par corrélation et caractérisation, DFT permettant le plus fort test parallélisme des MCU STM32)
- Management d'une équipe de 5 personnes
NVM Test Engineering Expert
STMicroelectronics
Rousset
2004.08 - 2018.12
- Définition de la stratégie et implémentation des solutions de test des mémoires embarquées dans les Général Purpose STM8 & STM32 MCU (EEPROM,Flash,Flash SST)
- Support de la phase d'industrialisation et d'optimisation du coût des flows de tests
- Gestion des retours clients (support technique et présentation technique)
- Intégration de la filière d'expertise technique
(2012 Member du Technical Staff/ 2017 Senior Member of Technical Staff)
Designer EEPROM Serial Memory
STMicroelectronics
Rousset
2000.10 - 2004.07
- Conception de mémoires standard EEPROM à accès serie (I2C/SPI/Microwire)
- Conception de mémoire dédiée à certaines application (Compteur kilométrique, Cartouche encre)
Design EEPROM memory
STMicroelectronics
Catania
1999.06 - 2000.09
- Conception du circuit de sortie SDA sur une mémoire série EEPROM I2C
- Analyse des rejets ESD d'une mémoire EEPROM parallèle (Analyse électrique et EMMI) pour implémentation d'une solution de protection
Formation
DESS EEA - Option Microélectronique
Université Claude Bernard/Ecole Centrale/INSA
Lyon 1997.09 - 1998.09
Compétences
- Sens de l'organisation
- Aisance orale en présentations
- Rigueur
- Sens de l'initiative
- Sens des responsabilités
- Créativité dans l'innovation produit
- Leadership
Compétences Techniques
- DFT : Définition des besoins et spécifications des besoins pour le test industriel
- Test & Industrialisation : définition de stratégies de test NVM, flows de test production, optimisation coût/temps de test, corrélation ATE, gestion des retours clients.
- Technologies : EEPROM, ESTM, Flash, Flash SST, PCM, RRAM.
- Produits : STM8, STM32.
- Outils / Environnements : ATE T2K Tester, Digital Simulation
Informations complémentaires
- Sports: Boxe, Marche nordique, Renforcement musculaire
- Lecture roman policier
- Histoire
Langues
Français
Langue maternelle
Italien
Bilingue
Anglais
Opérationnel
Chronologie
NVM Test Engineering Manager
STMicroelectronics
2023.11 - Actuel
Test Engineering Manager
STMicroelectronics
2019.01 - 2023.10
NVM Test Engineering Expert
STMicroelectronics
2004.08 - 2018.12
Designer EEPROM Serial Memory
STMicroelectronics
2000.10 - 2004.07
Design EEPROM memory
STMicroelectronics
1999.06 - 2000.09
DESS EEA - Option Microélectronique
Université Claude Bernard/Ecole Centrale/INSA
1997.09 - 1998.09