
Étudiant en dernière année de Master, alternance en microélectronique, je m'intéresse aux procédés de fabrication de dispositifs sur semi-conducteurs ainsi qu'à leur caractérisation. Je suis curieux des apports de la sonde atomique tomographique pour l'étude des dopants et défauts.J'apprécie particulièrement les approches mêlant expérimentation et simulation.
Activités principales:
Points clés : Défauts dans les matériaux.
Activités principales:
Points clés : Traitement de données spectroscopiques, Microscopie électronique.
Caractérisation : STEM , 4PP , COCOS , FTIR , PL , XRD , AFM
Procédés : Oxydation thermique , implantation , Traitement Thermique, Gravures
Analyse de données : Python
Outils : Suite Office , Latex
Simulation : TCAD , Comsol
Ingénieure recherche CNRS ; LPS
xiaoyan.li@universite-paris-saclay.fr
(+33) 7 62 78 25 38
Initiation à la simulation multiphysique avec COMSOL , 06/2025 - 08/2025